Als eine der führenden Fachzeitschriften im Konstruktions- und Engineering-Bereich bieten wir Konstrukteuren, Ingenieuren und Entscheidern hohen Nutzwert
A. Burla, T. Haist, W. Lyda, und W. Osten. Optical Engineering, (2012)13 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=1065791505102195850&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
S. Zwick, L. He, M. Warber, T. Haist, und W. Osten. Proc. der DGaO, (2007)2 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=2224526662259757506&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
T. Haist, M. Gronle, D. Bui, und W. Osten. tm-Technisches Messen, (2015)4 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=8530019438080874564&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
C. Kohler, T. Haist, X. Schwab, und W. Osten. Optics express, (2008)31 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=4352752689482019660&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
S. Dong, T. Haist, W. Osten, T. Ruppel, und .... Proc. SPIE, (2012)2 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=11190995107346479570&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
S. Zwick, T. Haist, Y. Miyamoto, L. He, und .... Journal of Optics A …, (2009)45 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=6243414488818389956&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
T. Haist, und W. Osten. Journal of Micro/Nanolithography, MEMS …, (2015)15 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=5823958335346115337&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
T. Haist, und W. Osten. Journal of Micro/Nanolithography, MEMS …, (2015)7 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=16007974591760507561&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
T. Haist, M. Reicherter, M. Wu, und L. Seifert. Comput. Sci. Eng., (2006)3 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=14566195398217273875&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
S. Dong, T. Haist, und W. Osten. Applied optics, (2012)16 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=7007654108719796123&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.
W. Lyda, A. Burla, T. Haist, M. Gronle, und W. Osten. International Journal of …, (2012)12 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=9954681190140723856&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.