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On the quality of test vectors for post-silicon characterization.

M. Sauer, A. Czutro, B. Becker, und I. Polian. European Test Symposium, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2012)

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Univ. -Prof. Dr. -Ing. Alexander Sauer University of Stuttgart

Alexander Sauer

Colin Sauerzapf University of Stuttgart

Ralf Sauerwald University of Stuttgart

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