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On secure data flow in reconfigurable scan networks

P. Raiola, B. Thiemann, J. Burchard, A. Atteya, N. Lylina, H. Wunderlich, B. Becker, und M. Sauer. 2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Seite 1016-1021. IEEE, (2019)

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Univ. -Prof. Dr. -Ing. Alexander Sauer University of Stuttgart

Alexander Sauer

Colin Sauerzapf University of Stuttgart

Univ. -Prof. Dr. -Ing. Cristina Tarin Sauer University of Stuttgart

Ralf Sauerwald University of Stuttgart

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