A. Schöll, C. Braun, M. Kochte, und H. Wunderlich. 2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS 2015), Seite 60-65. Piscataway, NJ, IEEE Computer Society, (2015)
A. Schöll, C. Braun, M. Kochte, und H. Wunderlich. Proceedings of the 21st IEEE International On-Line Testing Symposium, Seite 95-100. Piscataway, NJ, IEEE, (2015)
C. Liu, M. Kochte, und H. Wunderlich. Proceedings of the 21st IEEE International On-Line Testing Symposium, Seite 176-181. Piscataway, NJ, IEEE, (2015)
M. Eggenberger, und M. Radetzki. 2015 12th International Workshop on Intelligent Solutions in Embedded Systems (WISES), Seite 11-16. Piscataway, New Jersey, IEEE, (2015)