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Error Detection and Correction in Microprocessor Core and Memory Due to Fast Dynamic Voltage Droops., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). IEEE J. Emerg. Sel. Topics Circuits Syst., 1 (3): 208-217 (2011)4.7 A 409GOPS/W adaptive and resilient domino register file in 22nm tri-gate CMOS featuring in-situ timing margin and error detection for tolerance to within-die variation, voltage droop, temperature and aging., , , , , , und . ISSCC, Seite 1-3. IEEE, (2015)A cm-scale self-powered intelligent and secure IoT edge mote featuring an ultra-low-power SoC in 14nm tri-gate CMOS., , , , , , , , , und 27 andere Autor(en). ISSCC, Seite 46-48. IEEE, (2018)2GHz 2Mb 2T Gain-Cell Memory Macro with 128GB/s Bandwidth in a 65nm Logic Process., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). ISSCC, Seite 274-275. IEEE, (2008)Within-die variation-aware dynamic-voltage-frequency scaling core mapping and thread hopping for an 80-core processor., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). ISSCC, Seite 174-175. IEEE, (2010)An energy harvesting wireless sensor node for IoT systems featuring a near-threshold voltage IA-32 microcontroller in 14nm tri-gate CMOS., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). VLSI Circuits, Seite 1-2. IEEE, (2016)All-Digital Circuit-Level Dynamic Variation Monitor for Silicon Debug and Adaptive Clock Control., , , , , , , , , und . IEEE Trans. on Circuits and Systems, 58-I (9): 2017-2025 (2011)A 45 nm Resilient Microprocessor Core for Dynamic Variation Tolerance., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). J. Solid-State Circuits, 46 (1): 194-208 (2011)A 280mV-to-1.2V wide-operating-range IA-32 processor in 32nm CMOS., , , , , , , , , und 11 andere Autor(en). ISSCC, Seite 66-68. IEEE, (2012)2 GHz 2 Mb 2T Gain Cell Memory Macro With 128 GBytes/sec Bandwidth in a 65 nm Logic Process Technology., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). J. Solid-State Circuits, 44 (1): 174-185 (2009)