Autor der Publikation

Detection of early-life failures in high-K metal-gate transistors and ultra low-K inter-metal dielectrics.

, , , , , , , , und . CICC, Seite 1-4. IEEE, (2013)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Robust platform design in advanced VLSI technologies., , , und . CICC, Seite 23-30. IEEE, (2005)Multi-Frequency, Multi-Phase Scan Chain., und . ITC, Seite 323-330. IEEE Computer Society, (1994)Framework for massively parallel testing at wafer and package test., und . ICCD, Seite 328-334. IEEE Computer Society, (2009)Panel 4A: Apprentice - VTS edition: Season 3.. VTS, Seite 129. IEEE Computer Society, (2010)Sequential Element Design With Built-In Soft Error Resilience., , , , , , , , und . IEEE Trans. VLSI Syst., 14 (12): 1368-1378 (2006)Soft Error Resilient System Design through Error Correction., , , , und . VLSI-SoC (Selected Papers), Volume 249 von IFIP, Seite 143-156. Springer, (2006)XPAND: An Efficient Test Stimulus Compression Technique., und . IEEE Trans. Computers, 55 (2): 163-173 (2006)Session Abstract., und . VTS, Seite 292-293. IEEE Computer Society, (2006)XMAX: X-Tolerant Architecture for MAXimal Test Compression., und . ICCD, Seite 326-330. IEEE Computer Society, (2003)X-Compact: An Efficient Response Compaction Technique for Test Cost Reduction., und . ITC, Seite 311-320. IEEE Computer Society, (2002)