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Extended RVS characterisation of STT-MRAM devices: Enabling detection of AP/P switching and breakdown.

B. O'Sullivan, S. Beek, P. Roussel, S. Rao, W. Kim, S. Couet, J. Swerts, F. Yasin, D. Crotti, D. Linten, und G. Kar. IRPS, Seite 5-1. IEEE, (2018)

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Dimitri Evcenko University of Stuttgart

Dimitri Graf University of Stuttgart

Dr. rer. pol. Dimitri Petrik University of Stuttgart

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