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Thermal and free carrier laser interferometric mapping and failure analysis of anti-serial smart power ESD protection structures.

S. Bychikhin, M. Litzenberger, R. Pichler, D. Pogany, E. Gornik, G. Groos, und M. Stecher. Microelectronics Reliability, 41 (9-10): 1501-1506 (2001)

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Matthias Keinert

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Matthias Bachmann

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