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Thermal imaging of smart power DMOS transistors in the thermally unstable regime using a compact transient interferometric mapping system.

G. Haberfehlner, S. Bychikhin, V. Dubec, M. Heer, A. Podgaynaya, M. Pfost, M. Stecher, E. Gornik, und D. Pogany. Microelectronics Reliability, 49 (9-11): 1346-1351 (2009)

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