PUMA

Akademisches Publikationsmanagement
Publikationen sammeln, verwalten und teilen.

( en | de )

 

Disambiguierung von "Todri, Aida"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Through-Silicon-Via resistive-open defect analysis.

, , , , , und . European Test Symposium, Seite 1. IEEE Computer Society, (2012)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Keine Personen gefunden für den Autorennamen Todri, Aida
Eine Person hinzufügen mit dem Namen Todri, Aida
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Power Delivery for Multicore Systems., und . IEEE Trans. VLSI Syst., 19 (12): 2243-2255 (2011)A built-in scheme for testing and repairing voltage regulators of low-power srams., , , , , , und . VTS, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)Effect-cause intra-cell diagnosis at transistor level., , , , , , und . ISQED, Seite 460-467. IEEE, (2013)A study of path delay variations in the presence of uncorrelated power and ground supply noise., , , , , und . DDECS, Seite 189-194. IEEE Computer Society, (2011)Uncorrelated Power Supply Noise and Ground Bounce Consideration for Test Pattern Generation., , , , und . IEEE Trans. VLSI Syst., 21 (5): 958-970 (2013)Failure Analysis and Test Solutions for Low-Power SRAMs., , , , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 459-460. IEEE Computer Society, (2011)Defect analysis in power mode control logic of low-power SRAMs., , , , , , und . European Test Symposium, Seite 1. IEEE Computer Society, (2012)Through-Silicon-Via resistive-open defect analysis., , , , , und . European Test Symposium, Seite 1. IEEE Computer Society, (2012)Low-power SRAMs power mode control logic: Failure analysis and test solutions., , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2012)A study of reliability issues in clock distribution networks., und . ICCD, Seite 101-106. IEEE Computer Society, (2008)