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On-chip test comparison for protecting confidential data in secure ICs.

J. DaRolt, G. Natale, M. Flottes, und B. Rouzeyre. European Test Symposium, Seite 1. IEEE Computer Society, (2012)

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Di Liu University of Stuttgart

Data for: The silicon vacancy centers in SiC: determination of intrinsic spin dynamics for integrated quantum photonicsD. Liu. Dataset, (2024)Related to: Di Liu, Florian Kaiser, Vladislav Bushmakin, Erik Hesselmeier, Timo Steidl, Takeshi Ohshima, Nguyen Tien Son, Jawad Ul-Hassan, Öney O. Soykal, Jörg Wrachtrup (2023). The silicon vacancy centers in SiC: determination of intrinsic spin dynamics for integrated quantum photonics. arXiv preprint. arXiv: 2307.13648.

Univ. -Prof. Dr. -Ing. Giorgio Cattaneo University of Stuttgart

Luca Di Grazia University of Stuttgart

Roberta Di Bari University of Stuttgart

Martin Diesch University of Stuttgart

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