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A New Recovery Scheme Against Short-to-Long Duration Transient Faults in Combinational Logic.

R. Bastos, G. Natale, M. Flottes, F. Lu, und B. Rouzeyre. J. Electronic Testing, 29 (3): 331-340 (2013)

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Lisa-Marie Krauß University of Stuttgart

Marie Leimkühler University of Stuttgart

Lisa-Marie Michels University of Stuttgart

Marie Elise Schwahn University of Stuttgart

Dr. Marie Davidova University of Stuttgart

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