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A Refined Electrical Model for Particle Strikes and its Impact on SEU Prediction., , , , , und . DFT, Seite 50-58. IEEE Computer Society, (2007)A Mixed-Mode BIST Scheme Based on Folding Compression., , und . J. Comput. Sci. Technol., 17 (2): 203-212 (2002)Deterministic logic BIST for transition fault testing., , , und . IET Computers & Digital Techniques, 1 (3): 180-186 (2007)SAT-based ATPG beyond stuck-at fault testing., und . it - Information Technology, 56 (4): 165-172 (2014)DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme (DFG-Project - Test and Reliability of Nano-Electronic Systems)., , , , und . it - Information Technology, 48 (5): 304- (2006)Deterministic Pattern Generation for Weighted Random Pattern Testing., und . ED&TC, Seite 30-36. IEEE Computer Society, (1996)Using mission logic for embedded testing., und . DATE, Seite 805. IEEE Computer Society, (2001)Reuse of Structural Volume Test Methods for In-System Testing of Automotive ASICs., , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 214-219. IEEE Computer Society, (2012)Embedded Test for Highly Accurate Defect Localization., , , und . Asian Test Symposium, Seite 213-218. IEEE Computer Society, (2011)Accurate Multi-cycle ATPG in Presence of X-Values., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 245-250. IEEE Computer Society, (2013)