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Embedded Test for Highly Accurate Defect Localization.

A. Mumtaz, M. Imhof, S. Holst, und H. Wunderlich. Asian Test Symposium, Seite 213-218. IEEE Computer Society, (2011)

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Prof. Dr. Hans-Joachim Wunderlich University of Stuttgart

Hans-Joachim Bungartz

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Hans-Joachim Gehrmann University of Stuttgart

Univ. -Prof. Hans-Joachim Petsch University of Stuttgart

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