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Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors

S. Holst, E. Schneider, K. Kawagoe, M. Kochte, K. Miyase, H. Wunderlich, S. Kajihara, und X. Wen. Proceedings of the IEEE International Test Conference (ITC'17), Seite 1--8. Fort Worth, Texas, USA, (2017)
DOI: 10.1109/TEST.2017.8242055

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