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An Approach to the Built-In Self-Test of Field Programmable Analog Arrays., , , , und . VTS, Seite 383-388. IEEE Computer Society, (2004)Design-For-Testability for Switched-Current Circuits., , , und . VTS, Seite 370-375. IEEE Computer Society, (1998)Implementation of a linear histogram BIST for ADCs., , , und . DATE, Seite 590-595. IEEE Computer Society, (2001)An electrical test method for MEMS convective accelerometers: Development and evaluation., , , , und . DATE, Seite 806-811. IEEE, (2011)Combining Functional and Structural Approaches for Switched-Current Circuit Testing., , , und . J. Electronic Testing, 16 (3): 259-267 (2000)Delay Testing of MOS Transistor with Gate Oxide Short., , , und . Asian Test Symposium, Seite 168-173. IEEE Computer Society, (2003)BISTing Switched-Current Circuits., , , und . Asian Test Symposium, Seite 372-377. IEEE Computer Society, (1998)A Successful Distance-Learning Experience for IC Test Education., , , und . MSE, Seite 20-21. IEEE Computer Society, (1999)Testing the Configurable Analog Blocks of Field Programmable Analog Arrays., , , , und . ITC, Seite 893-902. IEEE Computer Society, (2004)Boolean and current detection of MOS transistor with gate oxide short., , , , und . ITC, Seite 1039-1048. IEEE Computer Society, (2001)