Autor der Publikation

RF components implemented in an analog SiGe bipolar technology

, , , , , , , und . Proceedings of the 1996 BIPOLAR/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, Seite 138-141. Piscataway, New Jersey, IEEE, (1996)
DOI: 10.1109/BIPOL.1996.554628

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

On-chip circuit to monitor long-term NBTI and PBTI degradation., und . Microelectronics Reliability, 53 (9-11): 1252-1256 (2013)Application of an SOI 0.12-µm CMOS technology to SoCs with low-power and high-frequency circuits., , , , , , , , , und 11 andere Autor(en). IBM Journal of Research and Development, 47 (5-6): 611-630 (2003)A simple array-based test structure for the AC variability characterization of MOSFETs., , und . ISQED, Seite 539-544. IEEE, (2011)Detecting and Preventing Measurement Errors.. IEEE Design & Test of Computers, 14 (4): 78-86 (1997)On-Chip Circuit for Measuring Period Jitter and Skew of Clock Distribution Networks., , und . CICC, Seite 157-160. IEEE, (2007)Statistical Characterization and On-Chip Measurement Methods for Local Random Variability of a Process Using Sense-Amplifier-Based Test Structure., , , , und . ISSCC, Seite 400-611. IEEE, (2007)SiGe power HBT's for low-voltage, high-performance RF applications, , , , und . IEEE Electron Device Letters, 19 (4): 103-105 (April 1998)Spiral inductors and transmission lines in silicon technology using copper-damascene interconnects and low-loss substrates, , , und . IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 45 (10): 1961-1968 (Oktober 1997)Device design issues for a high-performance technology with Si or SiGe epitaxial base, , , , , , , und . Microelectronic Engineering, 15 (1-4): 11-14 (Oktober 1991)Integrated RF And Microwave Components in BiCMOS Technology, , und . IEEE Transactions on Electron Devices, 43 (9): 1559-1570 (September 1996)