Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Maximizing Frequency and Yield of Power-Constrained Designs Using Programmable Power-Gating.

N. Kim, A. Sinkar, J. Seomun, und Y. Shin. IEEE Trans. VLSI Syst., 20 (10): 1885-1890 (2012)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Jun Chen University of Stuttgart

Jun Chen University of Stuttgart

Mathias Jung University of Stuttgart

Jong Hyun Jung University of Stuttgart

Dr. Kerstin Jung University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Frequency and yield optimization using power gates in power-constrained designs.N. Kim, J. Seomun, A. Sinkar, J. Lee, T. Han, K. Choi, und Y. Shin. ISLPED, Seite 121-126. ACM, (2009)Detection of early-life failures in high-K metal-gate transistors and ultra low-K inter-metal dielectrics.Y. Kim, J. Seomun, H. Kim, K. Do, J. Choi, K. Kim, M. Sauer, B. Becker, und S. Mitra. CICC, Seite 1-4. IEEE, (2013)Bounded potential slack: enabling time budgeting for dual-Vt allocation of hierarchical design.J. Seomun, S. Paik, und Y. Shin. ASP-DAC, Seite 581-586. IEEE, (2010)Synthesis and implementation of active mode power gating circuits.J. Seomun, I. Shin, und Y. Shin. DAC, Seite 487-492. ACM, (2010)Skewed Flip-Flop Transformation for Minimizing Leakage in Sequential Circuits.J. Seomun, J. Kim, und Y. Shin. DAC, Seite 103-106. IEEE, (2007)Maximizing Frequency and Yield of Power-Constrained Designs Using Programmable Power-Gating.N. Kim, A. Sinkar, J. Seomun, und Y. Shin. IEEE Trans. VLSI Syst., 20 (10): 1885-1890 (2012)Skewed Flip-Flop and Mixed-Vt Gates for Minimizing Leakage in Sequential Circuits.J. Seomun, J. Kim, und Y. Shin. IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 27 (11): 1956-1968 (2008)Synthesis of Active-Mode Power-Gating Circuits.J. Seomun, I. Shin, und Y. Shin. IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 31 (3): 391-403 (2012)Design and Optimization of Power-Gated Circuits With Autonomous Data Retention.J. Seomun, und Y. Shin. IEEE Trans. VLSI Syst., 19 (2): 227-236 (2011)Early-life-failure detection using SAT-based ATPG.M. Sauer, Y. Kim, J. Seomun, H. Kim, K. Do, J. Choi, K. Kim, S. Mitra, und B. Becker. ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2013)