Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Process Optimizations for Ge-On-Si Depletion Mode Transistors Using Mesa Architecture, , , , , und . 2022 International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM), Seite 1-4. (Dezember 2022)Charge Trapping Analysis of Metal/Al2O3/SiO2/Si, Gate Stack for Emerging Embedded Memories, , , , , und . IEEE transactions on device and materials reliability, 17 (1): 80-89 (2017)Design of a Third Order Butterworth Gm-C Filter for EEG Signal Detection Application., , , , und . MIXDES, Seite 361-365. IEEE, (2018)Integration of Ferroelectric Materials : An Ultimate Solution for Next-Generation Computing and Storage Devices, und . ACS applied electronic materials, 3 (7): 2862-2897 (2021)A Steep Slope MBE-Grown Thin p-Ge Channel FETs on Bulk Ge-on-Si Using HZO Internal Voltage Amplification, , , , , , und . IEEE transactions on electron devices, 69 (5): 2725-2731 (2022)An 8 bit, 100 kS/s, switch-capacitor DAC SAR ADC for RFID applications., , , und . Microelectronics Journal, 46 (6): 453-461 (2015)Maskless lithography : an approach to SU-8 based sensitive and high-g Z-axis polymer MEMS accelerometer, , , und . Microsystem technologies, 27 (8): 2925-2934 (2021)Metal (Pt)/ferroelectric (SrBi2Ta2O9)/insulator (La2O3)/semiconductor (Si), MFIS structures for nonvolatile memory applications, , und . Applied physics letters, 119 (6): 063505 (2021)The Capacitively Coupled Chopper Stabilized Amplifier with a DTPA based Demodulator., , und . ISCAS, Seite 1-5. IEEE, (2018)Impact of Charge Trapping On Epitaxial p-Ge<sub>-on-</sub>p-Si and HfO<sub>2</sub> Based Al/HfO<sub>2</sub>/p-Ge<sub>-on-</sub>p-Si/Al Structures Using Kelvin Probe Force Microscopy and Constant Voltage Stress, , , , , und . IEEE Transactions on Nanotechnology, (2021)