Autor der Publikation

Statistical Characterization and On-Chip Measurement Methods for Local Random Variability of a Process Using Sense-Amplifier-Based Test Structure.

, , , , und . ISSCC, Seite 400-611. IEEE, (2007)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Modeling and Analysis of Leakage Currents in Double-Gate Technologies., , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 25 (10): 2052-2061 (2006)A floating-body dynamic supply boosting technique for low-voltage sram in nanoscale PD/SOI CMOS technologies., , , , und . ISLPED, Seite 8-13. ACM, (2007)Adaptive Beam Design for V2I Communications Using Vehicle Tracking With Extended Kalman Filter., , , , und . IEEE Trans. Veh. Technol., 71 (1): 489-502 (2022)Design Considerations of Scaled Sub-0.1 ?m PD/SOI CMOS Circuits., , , und . ISQED, Seite 153-158. IEEE Computer Society, (2003)Modeling and analysis of total leakage currents in nanoscale double gate devices and circuits., , , und . ISLPED, Seite 8-13. ACM, (2005)Strained-si devices and circuits for low-power applications., , und . ISLPED, Seite 180-183. ACM, (2003)Circuit Techniques Utilizing Independent Gate Control in Double-Gate Technologies., , , , , und . IEEE Trans. VLSI Syst., 16 (12): 1657-1665 (2008)Super Fast Physics-Based Methodology for Accurate Memory Yield Prediction., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEEE Trans. VLSI Syst., 23 (3): 534-543 (2015)Assessment of structure variation in silicon nanowire FETs and impact on SRAM., , , und . Microelectronics Journal, 43 (5): 300-304 (2012)Technology-circuit co-design of asymmetric SRAM cells for read stability improvement., , und . CICC, Seite 1-4. IEEE, (2010)