Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Power-aware test generation with guaranteed launch safety for at-speed scan testing.

X. Wen, K. Enokimoto, K. Miyase, Y. Yamato, M. Kochte, S. Kajihara, P. Girard, und M. Tehranipoor. VTS, Seite 166-171. IEEE Computer Society, (2011)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Mohammad Ebrahimi University of Stuttgart

Mohammad Kasra Habib University of Stuttgart

Dorsa Mohammad Zaheri University of Stuttgart

Mohammad Youssef Mahfouz University of Stuttgart

Seyedeh Bina Mohammad Hejazi University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Low-Transition Test Pattern Generation for BIST-Based Applications.M. Nourani, M. Tehranipoor, und N. Ahmed. IEEE Trans. Computers, 57 (3): 303-315 (2008)BISA: Built-in self-authentication for preventing hardware Trojan insertion.K. Xiao, und M. Tehranipoor. HOST, Seite 45-50. IEEE Computer Society, (2013)Sensitivity Analysis to Hardware Trojans using Power Supply Transient Signals.R. Rad, J. Plusquellic, und M. Tehranipoor. HOST, Seite 3-7. IEEE Computer Society, (2008)Hardware Trojan Detection and Isolation Using Current Integration and Localized Current Analysis.X. Wang, H. Salmani, M. Tehranipoor, und J. Plusquellic. DFT, Seite 87-95. IEEE Computer Society, (2008)Test and Diagnosis for Small-Delay Defects.M. Tehranipoor, K. Peng, und K. Chakrabarty. Springer, (2011)Test-Pattern Selection for Screening Small-Delay Defects in Very-Deep Submicrometer Integrated Circuits.M. Yilmaz, K. Chakrabarty, und M. Tehranipoor. IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 29 (5): 760-773 (2010)Counterfeit Integrated Circuits: A Rising Threat in the Global Semiconductor Supply Chain.U. Guin, K. Huang, D. DiMase, J. Carulli, M. Tehranipoor, und Y. Makris. Proceedings of the IEEE, 102 (8): 1207-1228 (2014)Test-Pattern Grading and Pattern Selection for Small-Delay Defects.M. Yilmaz, K. Chakrabarty, und M. Tehranipoor. VTS, Seite 233-239. IEEE Computer Society, (2008)Pattern Generation and Estimation for Power Supply Noise Analysis.M. Nourani, M. Tehranipoor, und N. Ahmed. VTS, Seite 439-444. IEEE Computer Society, (2005)Session Abstract.K. Kim, und M. Tehranipoor. VTS, Seite 292-293. IEEE Computer Society, (2006)