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Disambiguierung von "Czutro, Alejandro"

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TIGUAN: Thread-Parallel Integrated Test Pattern Generator Utilizing Satisfiability ANalysis.

, , , , , und . VLSI Design, Seite 227-232. IEEE Computer Society, (2009)

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Alejandro Tristan Jimenez University of Stuttgart

Alejandro Gabriel Villanueva Zacarias

Dr. Pablo Alejandro Mora Pinto University of Stuttgart

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

ATPG-based grading of strong fault-secureness., , , , und . IOLTS, Seite 269-274. IEEE Computer Society, (2009)Evolutionary Optimization in Code-Based Test Compression, , und . CoRR, (2007)TIGUAN: Thread-Parallel Integrated Test Pattern Generator Utilizing Satisfiability ANalysis., , , , , und . VLSI Design, Seite 227-232. IEEE Computer Society, (2009)Analysis of Reachable Sensitisable Paths in Sequential Circuits with SAT and Craig Interpolation., , , , und . VLSI Design, Seite 382-387. IEEE Computer Society, (2012)Estimation of component criticality in early design steps., , , und . IOLTS, Seite 104-110. IEEE Computer Society, (2011)Evolutionary Optimization in Code-Based Test Compression., , und . DATE, Seite 1124-1129. IEEE Computer Society, (2005)Dynamic Compaction in SAT-Based ATPG., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 187-190. IEEE Computer Society, (2009)Power Droop Testing., , , und . ICCD, Seite 243-250. IEEE, (2006)An Electrical Model for the Fault Simulation of Small Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects., , , , , , und . VTS, Seite 21-26. IEEE Computer Society, (2009)Efficient SAT-Based Search for Longest Sensitisable Paths., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 108-113. IEEE Computer Society, (2011)