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TIGUAN: Thread-Parallel Integrated Test Pattern Generator Utilizing Satisfiability ANalysis.

A. Czutro, I. Polian, M. Lewis, P. Engelke, S. Reddy, und B. Becker. VLSI Design, Seite 227-232. IEEE Computer Society, (2009)

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T. Ertl

D. Marino

T. Vietor

T. Maier

Matthew Joliffe University of Stuttgart

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