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Analysis of Dynamic Faults in Embedded-SRAMs: Implications for Memory Test.

S. Borri, M. Hage-Hassan, L. Dilillo, P. Girard, S. Pravossoudovitch, und A. Virazel. J. Electronic Testing, 21 (2): 169-179 (2005)

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Dr. -Ing. Hassan Gomaa University of Stuttgart

Dr. -Ing. Bastian Zinßer University of Stuttgart

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