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Instabilities by Parasitic Substrate-Loop of GaN-on-Si HEMTs in Half-Bridges

S. Mönch, B. Weiss, R. Reiner, P. Waltereit, R. Quay, O. Ambacher, und I. Kallfass. 2018 IEEE 6th Workshop On Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), Seite 242-246. IEEE, (2018)
DOI: 10.1109/WiPDA.2018.8569066

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