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Critical factors influencing the voltage robustness of AlGaN/GaN HEMTs.

M. Cäsar, M. Dammann, V. Polyakov, P. Waltereit, R. Quay, M. Mikulla, und O. Ambacher. Microelectronics Reliability, 51 (2): 224-228 (2011)

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Michael Böhm

Michael Funk

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