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A Refined Electrical Model for Particle Strikes and its Impact on SEU Prediction., , , , , und . DFT, Seite 50-58. IEEE Computer Society, (2007)Deterministic Pattern Generation for Weighted Random Pattern Testing., und . ED&TC, Seite 30-36. IEEE Computer Society, (1996)Using mission logic for embedded testing., und . DATE, Seite 805. IEEE Computer Society, (2001)Tools and devices supporting the pseudo-exhaustive test., und . EURO-DAC, Seite 13-17. IEEE Computer Society, (1990)Reuse of Structural Volume Test Methods for In-System Testing of Automotive ASICs., , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 214-219. IEEE Computer Society, (2012)Embedded Test for Highly Accurate Defect Localization., , , und . Asian Test Symposium, Seite 213-218. IEEE Computer Society, (2011)Accurate Multi-cycle ATPG in Presence of X-Values., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 245-250. IEEE Computer Society, (2013)Generating pattern sequences for the pseudo-exhaustive test of MOS-circuits., und . FTCS, Seite 36-41. IEEE Computer Society, (1988)Concurrent Self-Test with Partially Specified Patterns for Low Test Latency and Overhead., , und . European Test Symposium, Seite 53-58. IEEE Computer Society, (2009)Towards Variation-Aware Test Methods., , , , und . European Test Symposium, Seite 219-225. IEEE Computer Society, (2011)