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Disambiguierung von "Bhuva, Bharat L."

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A Bulk Built-In Voltage Sensor to Detect Physical Location of Single-Event Transients.

, , , , , , , , und . J. Electronic Testing, 29 (2): 249-253 (2013)

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L. Ahlgrimm

Lambert Theisen University of Stuttgart

Univ. -Prof. Dr. Remco Ingmar Leine University of Stuttgart

Simulating mechanical systems with frictional contact using a nonsmooth generalized-alpha method, , , und . Special Issue: 92nd Annual Meeting of the International Association of Applied Mathematics and Mechanics (GAMM), 21, 1, Seite e202100141. Wiley, (2021)

Christian León University of Stuttgart

SyKonaS : Entwicklung und Anpassung von Instrumenten zur Konfliktbearbeitung im Rahmen der Energiewende : Projektbericht Nr. 4, , , , , , , , und . Bundesministeriums für Wirtschaft und Klimaschutz (BMWK), Stuttgart, (2024)

M.Sc. Yunxuan Li University of Stuttgart

CV-Priv : Towards a Context Model for Privacy Policy Creation for Connected Vehicles, , und . 2023 IEEE International Conference on Pervasive Computing and Communications Workshops and other Affiliated Events (PerCom Workshops), Seite 583-588. IEEE, (2023)
CV-Priv : Towards a Context Model for Privacy Policy Creation for Connected Vehicles, , und . 2023 IEEE International Conference on Pervasive Computing and Communications Workshops and other Affiliated Events (PerCom Workshops), Seite 583-588. IEEE, (2023)Privacy in Connected Vehicles: Perspectives of Drivers and Car Manufacturers, , , , und . Service-Oriented Computing : 17th Symposium and Summer School, SummerSOC 2023, Heraklion, Crete, Greece, June 25 – July 1, 2023, Revised Selected Papers, 1847, Seite 59-68. Cham, Springer, (2023)
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Statistical degradation analysis of digital CMOS IC's., , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 12 (6): 837-844 (1993)Impact of Synthesis Constraints on Error Propagation Probability of Digital Circuits., , , und . DFT, Seite 103-111. IEEE Computer Society, (2011)Single-Event Effects Analysis of a Pulse Width Modulator IC in a DC/DC Converter., , , , , , , und . J. Electronic Testing, 28 (6): 877-883 (2012)Multi-cell soft errors at the 16-nm FinFET technology node., , , , , , und . IRPS, Seite 4. IEEE, (2015)Soft Error Performance of High-Speed Pulsed-DICE-Latch Design in 16 nm and 7 nm FinFET Processes., , , und . IRPS, Seite 1-4. IEEE, (2019)Alpha Particle Soft-Error Rates for D-FF Designs in 16-Nm and 7-Nm Bulk FinFET Technologies., , , , , , und . IRPS, Seite 1-5. IEEE, (2019)Single-Event Transient Measurements on a DC/DC Pulse Width Modulator Using Heavy Ion, Proton, and Pulsed Laser., , , , , , , , und . J. Electron. Test., 30 (1): 149-154 (2014)Multi-level qualitative reasoning applied to CMOS digital circuits., , und . AI in Engineering, 7 (3): 125-137 (1992)Performance, Metastability, and Soft-Error Robustness Trade-offs for Flip-Flops in 40 nm CMOS., , , , , , und . IEEE Trans. on Circuits and Systems, 59-I (8): 1626-1634 (2012)Terrestrial SER characterization for nanoscale technologies: A comparative study., , , , , , , , , und 5 andere Autor(en). IRPS, Seite 4. IEEE, (2015)