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Impact of Technology and Voltage Scaling on the Soft Error Susceptibility in Nanoscale CMOS., und . DFT, Seite 114-122. IEEE Computer Society, (2008)Leveraging sensitivity analysis for fast, accurate estimation of SRAM dynamic write VMIN., , , und . DATE, Seite 1819-1824. EDA Consortium San Jose, CA, USA / ACM DL, (2013)Impact of voltage scaling on nanoscale SRAM reliability., und . DATE, Seite 387-392. IEEE, (2009)Analytical model for TDDB-based performance degradation in combinational logic., , , und . DATE, Seite 423-428. IEEE, (2010)TIMBER: Time borrowing and error relaying for online timing error resilience., , , und . DATE, Seite 1554-1559. IEEE, (2010)Modeling SRAM dynamic VMIN., , , und . ICICDT, Seite 1-4. IEEE, (2014)Cross layer resiliency in real world., , , und . DATE, Seite 1. European Design and Automation Association, (2014)A black box method for stability analysis of arbitrary SRAM cell structures., , , , , , und . DATE, Seite 795-800. IEEE Computer Society, (2010)Not All Ops Are Created Equal!, , und . CoRR, (2018)A digital dynamic write margin sensor for low power read/write operations in 28nm SRAM., , , und . ISLPED, Seite 307-310. ACM, (2014)