Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Provably optimal test cube generation using quantified boolean formula solving.

M. Sauer, S. Reimer, I. Polian, T. Schubert, und B. Becker. ASP-DAC, Seite 533-539. IEEE, (2013)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Franziska Becker University of Stuttgart

Bernd Bertsche

Univ. -Prof. Dr. Bernd Gundelsweiler University of Stuttgart

Anpassbare Mensch-Maschine-Schnittstellen zwischen Adaptivität und IndividualisierungM. Racs, D. Holder, M. Hutter, T. Maier, und B. Gundelsweiler. Stuttgarter Symposium für Produktentwicklung SSP 2023 : Tagungsband zur Konferenz, Stuttgart, 25. Mai 2023, Seite 524-535. Stuttgart, Fraunhofer IAO, (2023)

Dr. -Ing. Dina Becker University of Stuttgart

Univ. -Prof. Dr. -Ing. Steffen Becker University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Parallel SAT Solving in Bounded Model Checking.E. Ábrahám, T. Schubert, B. Becker, M. Fränzle, und C. Herde. J. Log. Comput., 21 (1): 5-21 (2011)Variation-aware fault modeling.F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, und H. Wunderlich. SCIENCE CHINA Information Sciences, 54 (9): 1813-1826 (2011)Layouts with Wires of Balanced LengthB. Becker, und H. Osthof. Inf. Comput., 73 (1): 45-59 (April 1987)Binary Decision Diagrams - Theory and Implementation.R. Drechsler, und B. Becker. Springer, (1998)Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults.P. Engelke, I. Polian, M. Renovell, und B. Becker. J. Electronic Testing, 22 (1): 61-69 (2006)Parallel QBF Solving with Advanced Knowledge Sharing.M. Lewis, T. Schubert, B. Becker, P. Marin, M. Narizzano, und E. Giunchiglia. Fundam. Inform., 107 (2-3): 139-166 (2011)On the representational power of bit-level and word-level decision diagrams.B. Becker, R. Drechsler, und R. Enders. ASP-DAC, Seite 461-467. IEEE, (1997)SAT-ATPG using preferences for improved detection of complex defect mechanisms.A. Czutro, M. Sauer, T. Schubert, I. Polian, und B. Becker. VTS, Seite 170-175. IEEE Computer Society, (2012)Automatic Test Pattern Generation for Interconnect Open Defects.S. Spinner, I. Polian, P. Engelke, B. Becker, M. Keim, und W. Cheng. VTS, Seite 181-186. IEEE Computer Society, (2008)On the (non-)resetability of synchronous sequential circuits.M. Keim, B. Becker, und B. Stenner. VTS, Seite 240-245. IEEE Computer Society, (1996)