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Comparison of Gate-Source-Dependent Soft- and Hard-Switching Losses of Wide-Bandgap Semiconductor Utilizing Electrical and Rapid Heatsinkless Calorimetric Measurements

R. Schnitzler, D. Koch, M. Weiser, J. Weimer, und I. Kallfass. in Proc. Applied Power Electronics Conference (APEC), Long Beach, (Februar 2024)

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Daniel Koch University of Stuttgart

D. Marino

Maurice Koch University of Stuttgart

Supplemental Material for "A Multimodal Framework for Understanding Collaborative Design Processes"M. Koch, N. Pathmanathan, D. Weiskopf, und K. Kurzhals. Software, (2025)

Dr. -Ing. Timo Koch University of Stuttgart

Timo Koch

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