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Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/InGaAs DHBT.

G. Koné, B. Grandchamp, C. Hainaut, F. Marc, C. Maneux, N. Labat, T. Zimmer, V. Nodjiadjim, und J. Godin. Microelectronics Reliability, 50 (9-11): 1548-1553 (2010)

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Davi Francois University of Stuttgart

Dominic Marcello

Dipl.-Ing. Marc Riedlinger

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Marc Gauger University of Stuttgart

Marc Schneider University of Stuttgart

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