Autor der Publikation

Active learning framework for post-silicon variation extraction and test cost reduction.

, , , und . ICCAD, Seite 508-515. IEEE, (2010)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Design-patterning co-optimization of SRAM robustness for double patterning lithography., , und . ASP-DAC, Seite 713-718. IEEE, (2012)REBEL and TDC: Two embedded test structures for on-chip measurements of within-die path delay variations., , , , und . ICCAD, Seite 170-177. IEEE Computer Society, (2011)Parametric Yield Analysis and Constrained-Based Supply Voltage Optimization., , , , , und . ISQED, Seite 284-290. IEEE Computer Society, (2005)A library compatible driver output model for on-chip RLC transmission lines., , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 23 (1): 128-136 (2004)Statistical modeling of cross-coupling effects in VLSI interconnects., , , und . ASP-DAC, Seite 503-506. ACM Press, (2005)Leakage power reduction using stress-enhanced layouts., , , , und . DAC, Seite 912-917. ACM, (2008)Active learning framework for post-silicon variation extraction and test cost reduction., , , und . ICCAD, Seite 508-515. IEEE, (2010)Dynamic Power Management by Combination of Dual Static Supply Voltages., und . ISQED, Seite 85-92. IEEE Computer Society, (2007)Low-latency Network Monitoring via Oversubscribed Port Mirroring., , , , , , , und . ONS, USENIX Association, (2014)SDN traceroute: tracing SDN forwarding without changing network behavior., , , und . HotSDN, Seite 145-150. ACM, (2014)