Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Sub 5 Second Wide-Bandgap Power Device Calorimetric Measurements Utilizing Optical Sensors and Peltier Elements

R. Schnitzler, D. Koch, und I. Kallfass. in Proc. PCIM Europe Conference, (2024)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

R. Koerner

Ruben Schnitzler University of Stuttgart

R. Watty

Matthias Ridder University of Stuttgart

Performance Investigation of Different PV Technologies on Pneumatically Actuated Adaptive Facade at a Demonstrator Building in Freiburg, GermanyS. Moser, E. Gonzalez San Martin, M. Ridder, L. Born, A. Körner, G. Gresser, J. Knippers, und R. Weitlaner. Proceedings of SimBuild Conference 2024, 11, Seite 661-667. International Building Performance Simulation Association, (2024)

Dipl.-Ing. Marc Riedlinger

An adaptive self-managing platform for cabin management systemsM. Riedlinger, O. Marquardt, R. Ahmadi, und R. Reichel. CEAS Aeronautical Journal, 7 (3): 483--498 (2016)

An adaptive self-managing platform for cabin management systemsM. Riedlinger, O. Marquardt, R. Ahmadi, und R. Reichel. CEAS Aeronautical Journal, 7 (3): 483--498 (2016)DIANA - Technologien für eine Energie-autarke, intelligente Kabine: Selbstadaptive Kabinenelektronik Plattform : Schlussbericht :M. Riedlinger, und R. Reichel. (2015)An adaptive middleware approach for fault-tolerant avionic systemsO. Marquardt, M. Riedlinger, R. Ahmadi, und R. Reichel. 2015 IEEE Aerospace Conference, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), (März 2015)

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Sub 5 Second Wide-Bandgap Power Device Calorimetric Measurements Utilizing Optical Sensors and Peltier ElementsR. Schnitzler, D. Koch, und I. Kallfass. in Proc. PCIM Europe Conference, (2024)Multidimensional Switching Loss Analysis of Different 1200 V SiC-Power MOSFET TechnologiesR. Schnitzler, E. DosSantosGomes, D. Koch, P. Rasic, und I. Kallfass. in Proc. International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS), Duesseldorf, (2024)Thermal Impedance Calibration for Rapid and Non-Invasiv Calorimetric Soft-Switching Loss CharacterizationJ. Weimer, D. Koch, R. Schnitzler, und I. Kallfass. IEEE Trans. on Power Electronics, (2023)Comparison of Gate-Source-Dependent Soft- and Hard-Switching Losses of Wide-Bandgap Semiconductor Utilizing Electrical and Rapid Heatsinkless Calorimetric MeasurementsR. Schnitzler, D. Koch, M. Weiser, J. Weimer, und I. Kallfass. in Proc. Applied Power Electronics Conference (APEC), Long Beach, (Februar 2024)Unraveling the Drain-Voltage Dependency of the Dynamic On-State Resistance of GaN-HEMTsM. Weiser, U. Vogel, D. Miller, R. Schnitzler, T. Fink, und I. Kallfass. in Proc. ECCE Europe, Birmingham, (2025)Machine Learning-Based Degradation State Prediction of SiC MOSFETs Aged by Static Power Cycling TestsT. Fink, T. Schmalzried, D. Kuderna-Melgar, R. Schnitzler, D. Koch, und I. Kallfass. in Proc. ECCE Europe, Birmingham, (2025)Parameter Dependent Anaylsis of Gate Switching Instability in SiC MOSFETsR. Schnitzler, T. Fink, D. Koch, D. Halmer, und I. Kallfass. in Proc. ECCE Europe, Birmingham, (2025)A Comprehensive Impact-Evaluation of Gate Switching Instability on Switching Losses in SiC MOSFETsR. Schnitzler, D. Koch, T. Fink, M. Weiser, und I. Kallfass. IEEE Trans. on Electron Devices, (2025)10 MHz Accelerated Gate-Switching Stress Tests Utilizing In-Situ Degradation Monitoring for SiC MOSFETsR. Schnitzler, D. Koch, und I. Kallfass. in Proc. PCIM Europe Conference, (2025)Optimized Design of Fast-Switching GaN-based Inverters Utilizing a Digital Prototype in a Standardized Realistic Test CycleJ. Nuzzo, D. Koch, M. Weiser, R. Schnitzler, und I. Kallfass. in Proc. IEEE Design Methodologies Conference (DMC), Miami, (September 2023)