Artikel in einem Konferenzbericht,

Logic/clock-path-aware at-speed scan test generation for avoiding false capture failures and reducing clock stretch

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2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS 2015), Seite 103-108. Piscataway, NJ, IEEE Computer Society, (2015)
DOI: 10.1109/ATS.2015.25

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