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3Time and Space Optimized Storage-based BIST under Multiple Voltages and Variations
H. Jafarzadeh, F. Klemme, H. Amrouch, S. Hellebrand, und H. Wunderlich. 2024 IEEE European Test Symposium (ETS), IEEE, (2024)
vor 7 Monaten von @unibiblio
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3Guardband Optimization for the Preconditioned Conjugate Gradient Algorithm
N. Lylina, S. Holst, H. Jafarzadeh, A. Kourfali, und H. Wunderlich. 53rd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks workshops volume, Seite 195-198. Piscataway, NJ, IEEE, (2023)
vor 2 Jahren von @unibiblio
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2Test Aspects of System Health State Monitoring
H. Wunderlich, H. Jafarzadeh, A. Kourfali, N. Lylina, und Z. Najafi-Haghi. 24th IEEE Latin American Test Symposium, Piscataway, NJ, IEEE, (2023)
vor 2 Jahren von @unibiblio
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3Exploiting the Error Resilience of the Preconditioned Conjugate Gradient Method for Energy and Delay Optimization
N. Lylina, S. Holst, H. Jafarzadeh, A. Kourfali, und H. Wunderlich. 2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), IEEE, (2023)
vor 2 Jahren von @unibiblio
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3Robust Resistive Open Defect Identification Using Machine Learning with Efficient Feature Selection
Z. Najafi-Haghi, F. Klemme, H. Jafarzadeh, H. Amrouch, und H. Wunderlich. 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), IEEE, (2023)
vor 2 Jahren von @unibiblio
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1Intelligent Methods for Test and Reliability
H. Amrouch, J. Anders, S. Becker, M. Betka, G. Bleher, P. Domanski, N. Elhamawy, T. Ertl, A. Gatzastras, P. Genßler und 25 andere Autor(en). 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Seite 969-974. Piscataway, IEEE, (2022)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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1Resistive Open Defect Classification of Embedded Cells under Variations
Z. Najafi Haghi, und H. Wunderlich. 2021 IEEE 22nd Latin American Test Symposium (LATS), Piscataway, IEEE, (2021)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Robust Reconfigurable Scan Networks
N. Lylina, C. Wang, und H. Wunderlich. 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Seite 1149-1152. Piscataway, IEEE, (2022)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Testability-Enhancing Resynthesis of Reconfigurable Scan Networks
N. Lylina, C. Wang, und H. Wunderlich. 2021 IEEE International Test Conference (ITC), Seite 20-29. Piscataway, IEEE, (2021)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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3Security Compliance Analysis of Reconfigurable Scan Networks
N. Lylina, A. Atteya, P. Raiola, M. Sauer, B. Becker, und H. Wunderlich. 2019 IEEE International Test Conference (ITC), Piscataway, IEEE, (2019)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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1SHIVA : Sichere Hardware in der Informationsverarbeitung : Formaler Nachweis komplexer Sicherheitseigenschaften in rekonfigurierbarer Infrastruktur
M. Kochte, M. Sauer, P. Raiola, B. Becker, und H. Wunderlich. Proceedings : edaWorkshop 16, Seite 24-29. Hohenwarsleben, Westarp Buchshop, (2016)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Formal verification of secure reconfigurable scan network infrastructure
M. Kochte, R. Baranowski, M. Sauer, B. Becker, und H. Wunderlich. 2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS), Piscataway, IEEE, (2016)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Functional Diagnosis for Graceful Degradation of NoC Switches
A. Dalirsani, und H. Wunderlich. 2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), Seite 246-251. Piscataway, IEEE, (2016)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Dependable on-chip infrastructure for dependable MPSOCs
M. Kochte, und H. Wunderlich. 2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), Seite 183-188. Piscataway, IEEE, (2016)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4High-Throughput Transistor-Level Fault Simulation on GPUs
E. Schneider, und H. Wunderlich. 2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), Piscataway, IEEE, (2016)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Mixed 01X-RSL-Encoding for fast and accurate ATPG with unknowns
D. Erb, K. Scheibler, M. Kochte, M. Sauer, H. Wunderlich, und B. Becker. 2016 21st Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), Seite 749-754. Piscataway, IEEE, (2016)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Test Strategies for Reconfigurable Scan Networks
M. Kochte, R. Baranowski, M. Schaal, und H. Wunderlich. 2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), Seite 113-118. Piscataway, IEEE, (2016)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Specification and verification of security in reconfigurable scan networks
M. Kochte, M. Sauer, L. Rodríguez Gómez, P. Raiola, B. Becker, und H. Wunderlich. 2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS), Piscataway, IEEE, (2017)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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4Trustworthy reconfigurable access to on-chip infrastructure
M. Kochte, R. Baranowski, und H. Wunderlich. 2017 International Test Conference in Asia (ITC-Asia), Seite 119-124. Piscataway, IEEE, (2017)
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6Applying efficient fault tolerance to enable the preconditioned conjugate gradient solver on approximate computing hardware
A. Schöll, C. Braun, und H. Wunderlich. 2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), Seite 21-26. Piscataway, IEEE, (2016)
vor 3 Jahren von @unibiblio
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