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On the behaviour of the selective iodine-based gold etch for the failure analysis of aged optoelectronic devices.

G. Mura, M. Vanzi, M. Stangoni, M. Ciappa, und W. Fichtner. Microelectronics Reliability, 43 (9-11): 1771-1776 (2003)

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Mirko Fichtner University of Stuttgart

Univ. -Prof. Dr. -Ing. Wolfgang Rheinheimer University of Stuttgart

Univ. -Prof. Dr. Wolfgang Kühnel University of Stuttgart

apl. Prof. Dr. Wolfgang Hauber University of Stuttgart

apl. Prof. Dr. Wolfgang Bolse University of Stuttgart

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