Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Exploring the limits of Arrhenius-based life testing with heterojunction bipolar transistor technology.

R. Petersen, W. Ceuninck, J. D'Haen, M. D'Olieslaeger, L. Schepper, O. Vendier, H. Blanck, und D. Pons. Microelectronics Reliability, 42 (9-11): 1359-1363 (2002)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Ishaan Desai University of Stuttgart

preCICE Distribution Version v2404.0J. Chen, G. Chourdakis, I. Desai, C. Homs Pons, B. Rodenberg, D. Schneider, F. Simonis, B. Uekermann, K. Davis, A. Jaust und 14 andere Autor(en). Software, (2024)

Jörg Desel

Das ist InformatikJ. Desel (Hrsg.) Springer, (2001)

Das ist InformatikJ. Desel (Hrsg.) Springer, (2001)Hilfreiche Hilfe Methode, Implementierung und Evaluation eines Verfahrens zur Adaption an das prozedurale WissenD. Iglezakis. Kath. Universität Eichstätt-Ingolstadt, Aachen, (2007)Hilfreiche Hilfe Methode, Implementierung und Evaluation eines Verfahrens zur Adaption an das prozedurale WissenD. Iglezakis. Kath. Universität Eichstätt-Ingolstadt, Aachen, (2007)

Univ. -Prof. Dr. Gerd de Bruyn University of Stuttgart

Michaela Denzel University of Stuttgart

Anda Degeratu University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Determination of the thermal resistance and current exponent of heterojunction bipolar transistors for reliability evaluation.R. Petersen, W. Ceuninck, L. Schepper, O. Vendier, H. Blanck, und D. Pons. Microelectronics Reliability, 41 (9-10): 1591-1596 (2001)Embedded Unit for Point-of-Care Impedance Based Biosensor Readout.J. Broeders, D. Croux, A. Weustenraed, T. Cleij, P. Wagner, W. Ceuninck, W. Vanaken, S. Duchateau, und R. Thoelen. HPCC-ICESS, Seite 1571-1577. IEEE Computer Society, (2012)Lifetime modeling of intrinsic gate oxide breakdown at high temperature.R. Moonen, P. Vanmeerbeek, G. Lekens, W. Ceuninck, P. Moens, und J. Boutsen. Microelectronics Reliability, 47 (9-11): 1389-1393 (2007)MTF test system with AC based dynamic joule correction for electromigration tests on interconnects.L. Biesemans, K. Schepers, K. Vanstreels, J. D'Haen, W. Ceuninck, und M. D'Olieslaeger. Microelectronics Reliability, 44 (9-11): 1849-1854 (2004)Advantage of In-situ over Ex-situ techniques as reliability tool: Aging kinetics of Imec's MCM-D discrete passives devices.P. Soussan, G. Lekens, R. Dreesen, W. Ceuninck, und E. Beyne. Microelectronics Reliability, 43 (9-11): 1785-1790 (2003)Optimizing the Thermal Read-Out Technique for MIP-Based Biomimetic Sensors: Towards Nanomolar Detection Limits.B. Geerets, M. Peeters, B. van Grinsven, K. Bers, W. Ceuninck, und P. Wagner. Sensors, 13 (7): 9148-9159 (2013)Evidence for source side injection hot carrier effects on lateral DMOS transistors.S. Aresu, W. Ceuninck, G. den bosch, G. Groeseneken, P. Moens, J. Manca, D. Wojciechowski, und P. Gassot. Microelectronics Reliability, 44 (9-11): 1621-1624 (2004)High-resolution SILC measurements of thin SiO2 at ultra low voltages.S. Aresu, W. Ceuninck, R. Dreesen, K. Croes, E. Andries, J. Manca, L. Schepper, R. Degraeve, B. Kaczer, und M. D'Olieslaeger. Microelectronics Reliability, 42 (9-11): 1485-1489 (2002)A new method for the lifetime determination of submicron metal interconnects by means of a parallel test structure.K. Vanstreels, M. D'Olieslaeger, W. Ceuninck, J. D'Haen, und K. Maex. Microelectronics Reliability, 45 (3-4): 753-759 (2005)Combining Electrochemical Impedance Spectroscopy and Surface Plasmon Resonance into one Simultaneous Read-Out System for the Detection of Surface Interactions.T. Vandenryt, A. Pohl, B. van Grinsven, R. Thoelen, W. Ceuninck, P. Wagner, und J. Opitz. Sensors, 13 (11): 14650-14661 (2013)