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Intelligent Methods for Test and Reliability, , , , , , , , , und 25 andere Autor(en). 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2022, Antwerp, Belgium, March 14-23, 2022, Seite 969--974. IEEE, (2022)Intelligent Methods for Test and Reliability, , , , , , , , , und 25 andere Autor(en). 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Seite 969-974. Piscataway, IEEE, (2022)Self-Learning Tuning for Post-Silicon Validation, , , und . (2022)Feature Selection Using Batch-Wise Attenuation and Feature Mask Normalization, , und . IJCNN 2021, virtual event, 18-22 July 2021 - the International Joint Conference on Neural Networks, New York, NY, IEEE, (2021)Learn to Tune : Robust Performance Tuning in Post-Silicon Validation, , und . 2023 IEEE European Test Symposium (ETS), IEEE, (2023)Interactive Analysis of Post-Silicon Validation Data, , , , , , , und . 2022 First International Workshop on Visualization in Testing of Hardware, Software, and Manufacturing, Seite 8-14. Piscataway, NJ, IEEE, (2022)Wafer Map Defect Classification Based on the Fusion of Pattern and Pixel Information, , , , und . 2022 IEEE International Test Conference (ITC), Seite 1-9. Piscataway, IEEE, (2022)ORSA : Outlier Robust Stacked Aggregation for Best- and Worst-Case Approximations of Ensemble Systems, , , und . 2021 20th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA), Seite 1357-1364. Piscataway, IEEE, (2021)