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Analysis of the XC6000 Architecture for Embedded System Design., , , und . FCCM, Seite 245-252. IEEE Computer Society, (1998)Test pattern generation hardware motivated by pseudo-exhaustive test techniques.. EURO-DAC, Seite 240-245. IEEE Computer Society, (1994)Verification by Simulation Comparison using Interface Synthesis., , und . DATE, Seite 436-443. IEEE Computer Society, (1998)Produktionstest synchroner Schaltwerke auf der Basis von Pipelinestrukturen.. GI Jahrestagung (2), Volume 188 von Informatik-Fachberichte, Seite 92-105. Springer, (1988)Reduced design time by load distribution with CAD framework methodology information., , und . EURO-DAC, Seite 314-319. IEEE Computer Society, (1995)Gate-Delay Fault Test with Conventional Scan-Design., und . EDAC-ETC-EUROASIC, Seite 524-528. IEEE Computer Society, (1994)Generation of deterministic test patterns by minimal basic test sets.. EURO-DAC, Seite 312-317. IEEE Computer Society Press, (1992)Enhanced functionality by coupling the JESSI-COMMON-Framework with an ECAD framework., und . ED&TC, Seite 285-293. IEEE Computer Society, (1995)Self-test of sequential circuits with deterministic test pattern sequences., und . J. Electronic Testing, 5 (2-3): 307-312 (1994)An analytical approach to the partial scan problem., und . J. Electronic Testing, 1 (2): 163-174 (1990)