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Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit.

C. Mukherjee, T. Jacquet, A. Chakravorty, T. Zimmer, J. Bock, K. Aufinger, und C. Maneux. Microelectronics Reliability, (2017)

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Janos Klaus University of Stuttgart

Klaus Hentschel

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