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Static and Dynamic Characterization of a Monolithic Integrated Temperature Sensor in a 600 V GaN Power IC

D. Koch, S. Moench, R. Reiner, J. Hueckelheim, K. Munoz-Baron, P. Waltereit, und I. Kallfass. in. Proc. PCIM Europe, Nuremberg, Germany, (Mai 2020)

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Kevin Muñoz Barón

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