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Design Considerations of an SRAM Array for the Statistical Validation of Time-Dependent Variability Models., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). SMACD, Seite 73-76. IEEE, (2018)A New Time Efficient Methodology for the Massive Characterization of RTN in CMOS Devices., , , , , , , , und . IRPS, Seite 1-5. IEEE, (2019)Automated Massive RTN Characterization Using a Transistor Array Chip., , , , , , , , und . SMACD, Seite 29-32. IEEE, (2018)A Model Parameter Extraction Methodology Including Time-Dependent Variability for Circuit Reliability Simulation., , , , , , , , und . SMACD, Seite 53-56. IEEE, (2018)New method for the automated massive characterization of Bias Temperature Instability in CMOS transistors., , , , , , , und . DATE, Seite 150-155. IEEE, (2019)Generation of Lifetime-Aware Pareto-Optimal Fronts Using a Stochastic Reliability Simulator., , , , , , , , , und . DATE, Seite 78-83. IEEE, (2019)TiDeVa: A Toolbox for the Automated and Robust Analysis of Time-Dependent Variability at Transistor Level., , , , , , , und . SMACD, Seite 197-200. IEEE, (2019)