Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

TIGUAN: Thread-Parallel Integrated Test Pattern Generator Utilizing Satisfiability ANalysis.

A. Czutro, I. Polian, M. Lewis, P. Engelke, S. Reddy, und B. Becker. VLSI Design, Seite 227-232. IEEE Computer Society, (2009)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Franziska Becker University of Stuttgart

Bernd Bertsche

Dr. -Ing. Dina Becker University of Stuttgart

Univ. -Prof. Dr. -Ing. Steffen Becker University of Stuttgart

Dr. rer. nat. Bernd Schulz University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Parallel SAT Solving in Bounded Model Checking.E. Ábrahám, T. Schubert, B. Becker, M. Fränzle, und C. Herde. J. Log. Comput., 21 (1): 5-21 (2011)Layouts with Wires of Balanced LengthB. Becker, und H. Osthof. Inf. Comput., 73 (1): 45-59 (April 1987)Variation-aware fault modeling.F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, und H. Wunderlich. SCIENCE CHINA Information Sciences, 54 (9): 1813-1826 (2011)Binary Decision Diagrams - Theory and Implementation.R. Drechsler, und B. Becker. Springer, (1998)Parallel QBF Solving with Advanced Knowledge Sharing.M. Lewis, T. Schubert, B. Becker, P. Marin, M. Narizzano, und E. Giunchiglia. Fundam. Inform., 107 (2-3): 139-166 (2011)Fault Models and Test Algorithms for Nanoscale Technologies (Fehlermodelle und Testalgorithmen für Nanoscale-Technologien).I. Polian, und B. Becker. it - Information Technology, 52 (4): 189-194 (2010)Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults.P. Engelke, I. Polian, M. Renovell, und B. Becker. J. Electronic Testing, 22 (1): 61-69 (2006)On the automatic generation of SBST test programs for in-field test.A. Riefert, R. Cantoro, M. Sauer, M. Reorda, und B. Becker. DATE, Seite 1186-1191. ACM, (2015)Evolutionary Optimization of Markov Sources for Pseudo Random Scan BIST.I. Polian, B. Becker, und S. Reddy. DATE, Seite 11184-11185. IEEE Computer Society, (2003)SAT-ATPG using preferences for improved detection of complex defect mechanisms.A. Czutro, M. Sauer, T. Schubert, I. Polian, und B. Becker. VTS, Seite 170-175. IEEE Computer Society, (2012)