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Test Considerations about the Structured ASIC Paradigm., und . DDECS, Seite 232-233. IEEE Computer Society, (2006)An Adaptive Low-Cost Tester Architecture Supporting Embedded Memory Volume Diagnosis., und . IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 61 (4): 1002-1018 (2012)An I-IP based approach for the monitoring of NBTI effects in SoCs., , , , , , und . IOLTS, Seite 15-20. IEEE Computer Society, (2009)Increasing the Fault Coverage of Processor Devices during the Operational Phase Functional Test., , , , und . J. Electronic Testing, 30 (3): 317-328 (2014)A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques., , , , , , und . J. Electronic Testing, 20 (1): 79-87 (2004)An Effective Technique for the Automatic Generation of Diagnosis-Oriented Programs for Processor Cores., , , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 27 (3): 570-574 (2008)An effective approach for functional test programs compaction., , , , , und . DDECS, Seite 119-124. IEEE, (2016)Cumulative embedded memory failure bitmap display & analysis., , , , , , , und . DDECS, Seite 255-260. IEEE Computer Society, (2010)An effective approach to automatic functional processor test generation for small-delay faults., , , , , und . DATE, Seite 1-6. European Design and Automation Association, (2014)An Efficient Method for the Test of Embedded Memory Cores during the Operational Phase., , , und . Asian Test Symposium, Seite 227-232. IEEE Computer Society, (2013)