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Analysis and Mitigation of Electromigration in RF Circuits: An LNA Case Study., , und . European Test Symposium, Seite 215. IEEE Computer Society, (2011)Fast Hierarchical Process Variability Analysis and Parametric Test Development for Analog/RF Circuits., und . ICCD, Seite 161-170. IEEE Computer Society, (2005)Cost-Effective Concurrent Test Hardware Design for Linear Analog Circuits., und . ICCD, Seite 258-264. IEEE Computer Society, (2002)Testing of Droplet-Based Microelectrofluidic Systems., , und . ITC, Seite 1192-1200. IEEE Computer Society, (2003)An analytical technique for characterization of transceiver IQ imbalances in the loop-back mode., und . DATE, Seite 1084-1089. IEEE, (2012)Approximating the age of RF/analog circuits through re-characterization and statistical estimation., , , und . DATE, Seite 1-4. European Design and Automation Association, (2014)Test Selection Based on High Level Fault Simulation for Mixed-Signal Systems., und . VTS, Seite 149-156. IEEE Computer Society, (2000)Boosting the Accuracy of Analog Test Coverage Computation through Statistical Tolerance Analysis., und . VTS, Seite 213-222. IEEE Computer Society, (2002)Parametric test development for RF circuits targeting physical fault locations and using specification-based fault definitions., und . ICCAD, Seite 73-79. IEEE Computer Society, (2005)Autonomic Microprocessor Execution via Self-Repairing Arrays., , und . IEEE Trans. Dependable Sec. Comput., 2 (4): 297-310 (2005)