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Modeling and Benchmarking 5nm Ferroelectric FinFET from Room Temperature down to Cryogenic Temperatures

S. Parihar, S. Chatterjee, G. Pahwa, Y. Chauhan, und H. Amrouch. 2023 IEEE 23rd International Conference on Nanotechnology (NANO), Seite 643-648. IEEE, (2023)
DOI: 10.1109/NANO58406.2023.10231310

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Shivendra Singh Parihar University of Stuttgart

Arijit Singha Hazari University of Stuttgart

Prakhar Singhal University of Stuttgart

Prabal Singh Verma University of Stuttgart

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