J. Liu, Y. Jeong, T. Ly, Ö. Atmaca, I. Park, und P. Pott. Mikroelektronik / Mikrosystemtechnik und ihre Anwendungen – Nachhaltigkeit und Technologiesouveränität 23. – 25. Oktober 2023, Dresden, Seite 65-69. VDE, (2023)
C. Bett, K. Frenner, S. Reichelt, und W. Osten. Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XIII, 12618, Seite 126181C. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2023)
T. Haist, F. Lodholz, A. Faulhaber, und S. Reichelt. Automated Visual Inspection and Machine Vision V, 12623, Seite 126230E. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2023)
S. Amann, T. Haist, A. Gatto, M. Kamm, und S. Reichelt. Digital Optical Technologies 2023, 12624, Seite 126240M. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2023)
B. Chen, S. Thiele, M. Xu, und A. Herkommer. Optical Design and Engineering VII, 10690, Seite 1069016. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2018)
S. Dong, T. Haist, T. Dietrich, und W. Osten. Unconventional Imaging and Wavefront Sensing 2014, 9227, Seite 922702. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2014)
H. Yang, T. Haist, M. Gronle, und W. Osten. Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, 9525, Seite 952522. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2015)
H. Yang, T. Haist, M. Gronle, und W. Osten. Automated Visual Inspection and Machine Vision II, 10334, Seite 1033405. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2017)
T. Haist, A. Steinitz, und F. Guerra. Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology, 11352, Seite 1135204. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2020)
R. Hahn, J. Görres, T. Haist, W. Osten, und S. Reichelt. Optical Sensing and Detection VII, 12139, Seite 121390I. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2022)
S. Amann, T. Haist, A. Gatto, M. Kamm, und A. Herkommer. Photonic Instrumentation Engineering X, 12428, Seite 124280G. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2023)
S. Hartlieb, M. Boguslawski, T. Haist, und S. Reichelt. Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology II, 12137, Seite 1213702. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2022)