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Impact of statistical variability and charge trapping on 14 nm SOI FinFET SRAM cell stability.

X. Wang, B. Cheng, A. Brown, C. Millar, J. Kuang, S. Nassif, und A. Asenov. ESSDERC, Seite 234-237. IEEE, (2013)

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Zhe Wang University of Stuttgart

Dr. Dongren Wang University of Stuttgart

Dr. rer. nat. Lei Wang University of Stuttgart

Xiwei Wang University of Stuttgart

FangFang Wang University of Stuttgart

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