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Bitline-capacitance-cancelation sensing scheme with 11ns read latency and maximum read throughput of 2.9GB/s in 65nm embedded flash for automotive.

M. Jefremow, T. Kern, U. Backhausen, C. Peters, C. Parzinger, C. Roll, S. Kassenetter, S. Thierold, und D. Schmitt-Landsiedel. ISSCC, Seite 428-430. IEEE, (2012)

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apl. Prof. Dr. Frank Kern University of Stuttgart

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Leyla Kern University of Stuttgart

Mira Kern University of Stuttgart

Dr. Michal Kern University of Stuttgart

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